透射电镜是一种利用电子束穿透样品并形成显微图像的仪器。其原理基于电子的波粒二象性，电子束通过样品时会与样品中的原子或分子发生相互作用，产生散射。
透射电镜通过收集和分析这些散射电子，可以获得样品的结构和成分信息。电子束的波长比可见光短得多，因此透射电镜具有更高的分辨率。透射电镜通常包括电子源、透镜系统、样品台和检测器等组件，通过调节电子束的聚焦和探测散射电子的位置，可以获取高分辨率的样品显微图像。
透射电镜的原理 扩展
透射电镜原理是利用电子束的衍射和干涉现象，通过将电子束穿透样品并在样品内部与原子或分子相互作用，产生电子衍射或干涉图样，从而对样品的内部结构进行观察和分析。
电子束的波长比光波短得多，因此能够实现对原子尺度的观察和分析。透射电镜由电子枪、样品台、透射电镜透镜组等部分组成，对于材料科学、纳米科技等领域的研究有重要的应用价值。
透射电镜的原理 扩展
透射电镜（Transmission Electron Microscope，TEM）原理是利用电子束而非可见光，通过样品中的薄片（通常是非常薄的）来产生高分辨率的图像。
电子束经过样品后，被透射到显影屏或数字探测器上，形成高分辨率的二维图像，从而能够观察样品的内部结构，如细胞器、晶体和原子排列。
TEM的分辨率远远超过光学显微镜，因为电子的波长比可见光短得多。这使得TEM成为研究纳米尺度结构和原子级结构的强大工具。
